Nicomp N3000納米激光粒度儀
專為復雜體系提供高精度粒度解析方案
基本信息

儀器型號：N3000 Standard

工作原理：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

檢測范圍： 0.3nm-10.0μm

     Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。

技術優(yōu)勢

1、PMT&APD雙檢測器自由選配；

2、可搭配不同功率光源；

3、精度高，接近樣品真實值；

4、快速檢測，可以追溯歷史數據；

5、結果數據以多種形式和格式呈現；

6、符合USP,CP等個多藥典要求；

7、無需校準；

8、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

9、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊（選配）；

（2）自動進樣系統(tǒng)（選配）；

（3）搭配多角度檢測器（選配）；

380/MA多角度檢測器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節(jié)角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的度。

Nicomp多峰分布概念

基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點，Nicomp人Dave Nicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

Nicomp多峰分布優(yōu)勢

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實狀況。依托于Nicomp系列儀器一系列的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

為滿足不同客戶的實際檢測需求，我司的Nicomp 380 N3000會配備相應的配置，旨在為客戶們在控制成本的基礎上，得到需求的解決方案，取得收益。

產品優(yōu)勢

模塊化設計

Nicomp 380納米激光粒度儀是全*在應用動態(tài)光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 380的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。

自動稀釋模塊

自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差，且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度，這大大縮短了測試者寶貴時間，且無需培訓，測試結果重現性好，誤差率＜1%。

380/HPLD大功率激光器

美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中，考慮到在各種極實驗測試條件中不同的需求，對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對小粒子也能搜集到足夠的散射信號，使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助，比如在檢測右旋糖酐大分子時，折射率的特性會引起光散射強度不足。

因為大功率激光器的特性，會彌補散射光強的不足和衰減，測試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質以及其他大分子不再是一個苛刻的難題。即使沒有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

雪崩二極管 (APD)超高靈敏度檢測器

Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。

APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時間內就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。